초록 close

본 연구에서는 실리콘 웨이퍼에 2중 다이싱 공정의 적용이 리드-온-칩 패키지로 조립되는 반도체 디바이스의 T.C. (-65℃에서 150℃까지의 온도변화에 지배되는 신뢰성 실험) 신뢰성에 어떠한 영향을 미치는 지를 보여준다. 기존 싱 글 다이싱 공정은 웨이퍼에서 분리된 디바이스의 테두리 부위가 다이싱으로 인해 기계적으로 손상되는 결과를 보였으나, 2중 다이싱 공정은 분리된 디바이스의 테두리 부위가 거의 손상되지 않고 보존되는 것을 확인할 수 있었다. 이는 2중 다 이싱의 경우 다이싱 동안 웨이퍼의 전면에 도입된 노치부위가 선택적으로 파손되면서 분리된 디바이스의 테두리 부위를 보호하기 때문으로 해석된다. 온도변화 실험을 통해 2중 다이싱 공정의 도입이 단일 다이싱 공정에 비해 T.C. 신뢰성에 서도 대단히 좋은 결과를 보인다는 것을 확인할 수 있었다.


This work shows how the adoption of a dual-dicing process for silicon wafer separation affects the thermalcycling reliability (i.e. -65℃ to 150℃) of the semiconductor devices utilizing lead-on-chip (LOC) die attach technique. In-situ examinations show that conventional single-dicing process directly attacks the edge region of diced devices but dual-dicing process effectively protects the edge region of diced devices from dicing-induced mechanical damage. Probably, this is because the preferential and sacrificial fracture of notched regions induced on the active surface of wafers saves the edge regions. It was also investigated through thermal-cycling tests that the number of thermal-cycling induced failures is much lower at the dual-dicing process than the single-dicing process.