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본 논문에서는 2-패턴 테스트를 고려한 스캔 기반 BIST 구조를 제안한다. 제안하는 BIST는 STUMPS 구조를 기반으로 하고 있다. STUMPS 구조는 테스트 생성기로 선형 귀환 시프트 레지스터(LFSR)를 사용하고, 응답 압축기로는 다중 입력 시프트 레지스터(MISR), 그리고 다중 스캔 패스 구성에는 시프트 레지스터 래치(SRL)을 사용한다. 제안하는 BIST 구조에서는 degenerate MISR이 SRL 채널을 구성하도록 하여, STUMPS 기법에 비하여 원래 회로에 부가되는 BIST 회로의 크기를 줄이고 전체 시스템의 성능에 거의 영향을 주지 않도록 한다. 클럭 당 테스트와 스캔 당 테스트가 모두 지원되는 구조로 설계되며, 특히 스캔 당 테스트에서 스캔 데이터의 회로에 대한 영향을 억제하여 회로의 전력 소모를 크게 줄일 수 있다. ISCAS 89 벤치마크 회로에 대한 실험 결과로부터, SRL 채널 내 데이터의 해밍 거리를 고려하여 제안된 BIST가 경로 지연 고장의 검출에도 적용될 수 있음을 확인한다.


In this paper, a scan-based low power BIST (Built-In Self-Test) architecture is proposed. The proposed architecture is based on STUMPS, which uses a LFSR (Linear Feedback Shift Register) as the test generator, a MISR(Multiple Input Shift Register) as the reponse compactor, and SRL(Shift Register Latch) channels as multiple scan paths. In the proposed BIST a degenerate MISR structure is used for every SRL channel; this offers reduced area overheads and has less impact on performance than the STUMPS techniques. The proposed BIST is designed to support both test-per-clock and test-per-scan techniques, and in test-per-scan the total power consumption of the circuit can be reduced dramatically by suppressing the effects of scan data on the circuits. Results of the experiments on ISCAS 89 benchmark circuits show that this architecture is also suitable for detecting path delay faults, when the hamming distance of the data in the SRL channel is considered.